卓上型

OPTIPRO-micro

OPTIPRO-micro

特長

局繰り返し精度が優れ、対象物の実態を鮮明に取り出すことができます。(適用分野:LCD、光学フィルム、光学多層膜、液晶レンズ等)

  • 1nm~10,000nm以上の位相差測定可能
  • 繰り返し測定精度 3σ < 0.2nm
  • 優れたインターフェイス
  • 高い空間分解能,微小領域の面分布測定が可能,あらゆる透過型試料の評価に対応可能

新機能

OPTIPRO-micro 3ミクロンビーム径での微小ツイスト測定機能

IPS/FFS構造は本来ツイスト角度をもちませんが、実際には僅かな;例えば0.3度程度;のツイスト角度が存在しそれがコントラスト低下等を導きます.
更に方位方向アンカリングエネルギーの空間分布を知ることができ、このことは焼き付き低減、高速スウィッチング実現の為のヒントを与えます.

測定ビームスポット径

  • 最小測定ビームスポット径:3um
  • 最大測定ビームスポット径:500um

概寸法

W320mm × D560mm × H800mm

最大試料サイズ

100mm角

OPTIPRO-standard(標準機)

OPTIPRO-standard

特長

  • 自動角度(シータ、ファイ)ステージ
  • ホットクールステージ
  • 省スペース、低価格

測定ビームスポット径

2mm

概寸法

W400mm × D600mm × H700mm

最大試料サイズ

100mm角

OPTIPRO-chiralmeter

OPTIPRO-chiralmeter

特長

高分子膜の旋光能および偏光伝搬特性を調べます。

  • 光学異性体(高分子膜)の測定
  • 波長依存性を高精度に測定
  • リタデーション、Muller Matrix測定
  • 複屈折性、二色性を高精度に測定
  • 単一および、複数の波長測定(350nm~1500nmまで連続可変)

概寸法

W800mm × D700mm × H335mm

質量

100kg


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