LCDMaster 1D

構造定義

データベース一覧から挿入したい個所へDrag and Dropでパネル配置を行います。Ver.7ではパネル構造はCGで立体的に表示され、全容を一望できます。異方性媒質の光学軸角度や透過型モデル、反射型モデルの表示もCGで表示されるため、計算開始前にパネル構造を確認でき、入力ミスを軽減できます。更に定義できる層の数を従来の25から100へ大きく拡張しました。
多層膜構造で頻繁に使用する構造は、サブストラクチャとして定義することができ、多層構造になっても短時間でパネル構成が可能です。

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配向計算

電圧を印加した際の液晶分子(ダイレクタ)の挙動を計算します。動解析では時間応答を求め、静解析では指定電圧における平衡状態を計算します。

弱アンカリング

ダイレクタ配向計算を行う際に、境界面のダイレクタの動きにくさをアンカリング強度として与えます。指定しない場合は強アンカリングとなり、境界面のダイレクタは初期配向に固定されます。

(EX)流れ解析

液晶の時間応答計算に6つのLeslie constantsを使って解析を行い、バックフロー効果を確認できます。

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(EX)Flexoelectric効果

発揮します。
Nematic相の配向状態にSplayやBend歪を与えると電気分極が誘起される現象をFlexoelectric効果といい、LCD Masterでは、Flexo係数e1,e3を与えて計算を実行し、より現実に近い配向分布、応答速度を求めることができます。消費電力削減に威力を発揮します。

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(EX)テンソルオーダーパラメータ

テンソルオーダーパラメータを使った、Microscopicな効果を盛り込んだシミュレーションです。nダイレクタの向きだけではなく、秩序(スカラーオーダーパラメータ)の時間変化、空間分布が明らかにされます。de GennesやBerremanの自由エネルギーのQテンソル展開とも異なる厳密な理論式による計算を可能にしています。

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マルチドメインセル計算

最大72の異なる配向条件を指定できます。異なる配向条件でダイレクタ分布と光学計算を行い、各配向条件における透過率の平均値を重み条件を考慮して求め、計算結果として保存します。この機能により、複数ドメインの計算を行う手間を大幅に削減できます。
また、最新バージョンでは、アニメーションでそれらの動きを確認できます。

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配向計算結果表示

配向計算後にダイレクタの計算結果を、項目ごとに選びなおさずグラフとリスト表示可能。計算結果として表示される項目は、各層における極座標(θ、φ)、各液晶の駆動状態(時間 or 電圧)における静電容量、エネルギー(GibbsエネルギーとHelmholtzエネルギー)などです。

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光学計算

データベースに登録された光学部材を多層膜定義し、その構造中を伝播する光を計算します。アルゴリズムとして多重干渉を考慮した4×4法と一回反射を考慮した2×2法の二つがあります。

変数・関数機能

材料の厚みと軸角度、液晶セルパラメータ(Pretilt、Pretwist、Cellgap)を変数にして簡易最適化計算を行うことができます。

Mueller matrix計算

部分偏光までカバーした偏光変換行列(Mueller matrix)を用いた計算手法を用意しました。これにより、以下の機能を実現できます。
・消偏光特性を発現する媒質の特性を考慮した計算
・入射偏光に部分偏光を指定
・OPTIPROで測定したデータの挿入
・OPTIPROで測定した光源の偏光データを入射偏光に指定

OPTIPRO測定データの挿入

シンテック社製偏光解析装置「OPTIPRO」で測定したMueller matrix データをパネル構成要素として挿入できます。

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金属反射板計算

金属データベースを新たに用意し、金属の屈折率、吸収係数を使用して反射率、位相差を求めます。
実際の反射材料を使用した反射計算シミュレーションができます。(2x2、4x4どちらも対応しています)

並列計算対応

コンピュータがMulti core CPUを搭載していれば自動的に光学計算が並列化され、その結果計算時間を劇的に短縮することができます。

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可視光外波長計算 (200nm~2000nm)

標準で計算できる波長域は可視光域(380nm~780nm)ですが、本機能により200nm~2000nmまで計算可能範囲を広げることができ、紫外域、赤外域での透過率・偏光を知りたい場合に有用です。

1軸数式セル計算

1軸異方性多層膜の各層光学軸方位を極座標値(θ、φ)で表します。θ、φの厚み方向変化度合を数式で定義できます。位相補償板、コレステリック液晶のシミュレーションをするときに大変便利です。四則演算、三角関数、指数関数、定数としてπ、変数として0から1の範囲を持つZを使用することができるので、柔軟な配向分布を実現できます。

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層間の偏光変化解析

多層膜、各層間の偏光状態遷移をポアンカレ球への座標プロット、ストークスパラメータのリスト表示、偏光状態アニメーション表示によって知ることができます。光学位相補償設計に威力を発揮します。

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3DTV評価

観測位置に液晶パネルと同じように材料を積み上げ、観測位置における光学部品を指定することができます。
このコマンドを使用することで、3D-TV用眼鏡構成を作成でき、液晶パネルを見る位置でどのような視角特性になるかを予測できます。
観測位置パネルは単独でファイルに保存できるので、液晶パネルが変わった時でも簡単に両者の関係を直ぐに評価できます。

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D.O.P.

部材の消偏光性を考慮した光学計算を行うことができます。
部材の消偏光性を測定する装置をもっていないときや、持っている装置では測れないほどの小さな値を評価したいときに本機能を使用します。
Degree of Polarization (D.O.P.)を次の式で定義します。

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αが0のときは無偏光、1のときは完全偏光を表します。
データベースに保管されている部材を配置するとき、αを与えることができます。
αの値は波長、入射方位によって一般的には違いますが、ここでは同じとして唯一つのαを入力します。
αのデフォルト値は1、つまり消偏光性がない状態です。その定義から0から1の値を与えます。

4×4反射率出力

透過型パネル構成での光学計算結果は、透過率が出力されますが、本機能で反射率も併せて出力します。4×4のみ有効です。

散乱金属反射板

金属の表面に半球構造を定義し、疑似的に乱反射を発生させる反射板を配置できます。(2x2、4x4どちらも対応しています)

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光線追跡ソフトとの連動

SPEOS(フランスOPTIS社製)、LightTools(アメリカORA社製)など光線追跡ソフトウェアでバックライトユニットを計算した光線データを、光源データとして読み込みます。放射量(Radiometry)だけでなく測光量(Photometry)で輝度、コントラストを評価できるので、より現実に近い予測ができます。

2軸異方性媒質拡張定義

2軸異方性媒質の吸収を考慮した計算を行うことができます。さらに、屈折軸と吸収軸が一致していないモデルを扱うことが可能となり、高度な偏光板解析を行うことができます。

2軸数式セル計算

2軸異方性多層膜の各層光学軸方位を極座標値(θ、φ、ψ)で表します。θ、φ、ψの厚み方向変化度合を数式で定義できます。
より汎用性のある多機能な光学位相差膜開発設計時に役に立ちます。

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Analyzer

光学計算の結果から透過率、色度、コントラスト等について視野角特性や時間応答、電圧依存性や偏光状態をグラフやViewing coneで表示し、評価解析を行います。

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偏光情報ポアンカレ球表示

透過光(反射光)の偏光状態をポアンカレ球で表示します。
ポアンカレ球は自由にいろいろな方向に回転できますので、より直感的に偏光状態の変化を理解できます。

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色評価機能拡張

色温度、色再現範囲を使用して色評価を行うことができます。

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γ特性評価

γ補正を考慮したグレースケールの表示を行うことができます。

光源測定データ読み込み

Backlight unitを測定したデータを計算に反映させることができます。

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EzContrast(ELDIM)との連動

ELDIM社製EZ Com ソフトウェアがインストールされている環境で使用する場合、Measured dataとしてedfファイルを選択することができます。

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カタログ機能

Analyzerプログラムで計算された多量のファイルを一度に分析し、表示する機能です。表示できる解析機能はViewing coneです。

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拡張Graph・Contour表示

実験結果や独自に作成したプログラムで求めた結果をAnalyzerのグラフ、Contourで出力できます。

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